IE200M型三目倒置金相顯微鏡

一、概 述 

用于鑒別和分析各種金屬和合金材料的組合結構，廣泛應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定；原材料的檢驗或材料處理后的金相組織分析；以及對表面噴涂等一些表面現象進行研究工作。是鋼鐵、有色金屬材料、鑄件、鍍層的金相分析；地質學的巖相分析；以及工業行業對化合物、陶瓷等進行微觀研究的設備，是金屬學和材料學研究材料組織結構的檢測儀器，也廣泛應用于生物、醫學和教學等行業。

二、主要特點：

    使用金相物鏡及平場目鏡，成像質量好，分辨率高，觀察舒適。提供圖像質量和穩固可靠的機械結構。選配相應的攝影攝像附件，可對觀察圖像進行采集和保存，配電腦和金相分析軟件圖像進行金相圖像分析。廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、工程測量等行業。

三、金相顯微鏡IE200M-W技術參數

1、結    構： 鉸鏈式三目，45°傾斜，雙邊±5屈光度可調，瞳距調節范圍：54-75mm，固定式分光比，雙目:三目=80%:20% 。

2、放大倍數： 50×～ 500×。

3、物    鏡： 長工作距平場消色差金相物鏡5X，10X，20X，50X。

4、目    鏡： 高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm 。

5、測 微 尺： 格值0.01㎜/1㎜。

6、載 物 臺：   三層機械移動平臺，面積180mmX155mm，右手低手位控制，行程:75mm×40mm;  金屬載物臺板，中心孔直徑φ12mm 。

7、調焦機構： 低手位粗微調同軸調焦機構，粗動每轉行程38 mm；微調精度2um，帶松緊調節機構。

8、照明系統： 反射式柯拉照明，帶可變孔徑光闌和中心可調視場光闌，自適應90V-240V寬電壓 ,6V30W鹵素燈（可選配單顆3W LED燈），光強連續可調。 

9、光學系統： 有限遠色差校正系統。 

10、偏光裝置： 起偏鏡和檢偏鏡均可移出光路，檢偏鏡插板可360°旋轉 。  

11、電    源： 220VAC（50Hz）

12、攝像裝置：攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 ，0.5X/1.0X  C型攝像接筒